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為力學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器而生
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語(yǔ)言
為力學(xué)實(shí)驗(yàn)室儀器而生
相移電子散斑干涉（ESPI）技術(shù)是繼光彈性和全息干涉等光測(cè)力學(xué)方法之后發(fā)展起來(lái)的一種實(shí)驗(yàn)力學(xué)新方法。它直接依靠激光干涉和計(jì)算機(jī)圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運(yùn)用，可用于解決工程中的強(qiáng)度和剛度問(wèn)題，并可用于殘余應(yīng)力測(cè)量。
三維相移電子散斑干涉儀可滿(mǎn)足物體表面面內(nèi)位移和離面位移測(cè)量的要求。該儀器采用高性能半導(dǎo)體激光器作光源，并配以電子散斑條紋實(shí)時(shí)顯示和位相處理軟件，使得操作方便、測(cè)量結(jié)果兼容性強(qiáng)（便于通用數(shù)據(jù)處理軟件接口）。
主要技術(shù)指標(biāo)：
◆ 光源：半導(dǎo)體泵浦固體激光器(綠光),輸出功率大于20mw, 波長(zhǎng)532nm
◆ 相機(jī)：1280×1024 USB2.0數(shù)字?jǐn)z像頭
◆ 鏡頭：25mm定焦鏡頭(標(biāo)配)，可選配其它C接口鏡頭
◆ 工作距離：400～800mm
◆ 條紋分辨率：1/20級(jí)條紋(13.3nm)
◆ 演示試件： 圓盤(pán)受均布載荷，懸臂梁
◆ 最大范圍：Ф250mm
◆ 尺寸：520cm×370cm×250cm
◆ 重量：22kg
